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多功能数字式四探针测试仪 中科晶格苏州办公地点在哪里
2024-01-12
测试仪
数字式
586 ℃
电阻率测量采用四探针法。测量薄膜有专门的测试仪和探头,测量块棒材料和薄膜材料的测试仪可以通用,可以用四探针代替,粉体测试有专门的测试仪,包括手动测试仪和电动测试仪,四探针
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