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电阻率测量采用四探针法。测量薄膜有专门的测试仪和探头，测量块棒材料和薄膜材料的测试仪可以通用，可以用四探针代替，粉体测试有专门的测试仪，包括手动测试仪和电动测试仪，四探针法消除接触电阻的原理KDY1四探针电阻率/方阻测试仪使用说明广州昆德科技有限公司1。概述KDY1四探针电阻率/方块电阻测试仪(以下简称电阻率测试仪)是一种测量仪器，用于测量半导体材料(主要是硅单晶、锗单晶和硅片)的电阻率，以及扩散层、外延层、ITO导电膜和导电橡胶方块的电阻。

测试材料的导电性:小灯泡、2节电池、电线、开关、铅笔芯、铜线、铝线、木棍、塑料棒。这种情况下，完全可以使用万能电流表，那么万能电压表也可以达到这个效果，所以是可以的。测量PC材料的电导率，可以使用以下工具和方法:电导仪(电导率仪):电导仪是专门用来测量材料电导率的仪器。它可以提供导电PC材料的表面电阻或体电阻。

电导率仪通常配有电极或探针，用于接触材料表面或样品并测量电阻。电阻测试仪:电阻测试仪可以用来测量材料的电阻。通过将电阻测试仪的电极与PC材料接触，可以测量材料的电阻。电阻值可用于计算电导率。四探针法:四探针法是一种常用的测量材料电阻的方法，特别是对于导电性好的材料。它是用四个电极(两个电流电极和两个电压电极)以特定的排列方式接触在材料表面，测量电流和电压来计算电阻值。

大多数方块电阻测试仪采用的计算公式为r4.532 * v/i .其中V为探针2和3的电压；I是探针1和4的电流。如果只考虑仪器校准的精度(不考虑仪器的负载能力)，最简单的方法是:将1和2探头并联，连接到一个1欧姆的精密电阻(或标准电阻)的一端；3号和4号探针并联，然后连接到精密电阻的另一端。此时，方阻测试仪的测试值为4.532欧姆/平方。

设备名称:傅里叶变换红外光谱仪设备编号:HIKSCT1(1)系统介绍一种全新的摆式干涉仪，易于实现快速扫描。干涉仪稳定性高，体积小，结构紧凑，易于维护。干涉仪采用密封防潮防尘结构，有效降低了对使用环境的要求。高强度红外光源采用球面反射镜，可以获得均匀稳定的红外辐射。程控增益放大电路、高精度A/D转换电路的设计和嵌入式微机的应用，提高了仪器的精度和可靠性。

OminMap是RS35 四探针测试仪的名称，没有特殊含义。由Prometrix公司生产。Prometrix的四探针生产部门在90年代被Tencor合并。Tencor继续生产四探针测试仪并保留原公司名称和产品名称。后来又有RS55，RS75等型号。KLA和腾科尔在1997年合并成克拉腾科尔。

市面上的粉体电阻率测试仪很多，质量参差不齐，以次充好。建议顾客找专业厂家。粉末电阻率测试仪:1。根据被测材料的性质可分为导体粉末电阻率测试仪(自动多功能型和手动型)、四探针粉末电导率测试仪(自动多功能型和手动型)和绝缘粉末电阻率测试仪(自动多功能型和手动型)三大类，分别适用于测量导体材料、半导体和绝缘材料；手动简易版和自动多功能版利用PC软件实时分析和跟踪整个材料测试过程。手动版本使用液压装置。2.从测试压力来看，一般为:200kg；300kg500kg1000kg这些种类；不同的压力代表不同压实密度下材料的导电性能；3.质量方面，重复性和准确性还是3%；重复性误差小于2%。四、测量范围，范围大小确实决定了产品的测试范围。一般来说，四端法建议电阻为108 ~ 2×105ω或107 ~ 2×107ω，可选择四探针法的平方电阻范围:105 ~ 2×105ω/□；106~2×105Ω/□;104 ~ 1×107ω/□绝缘材料电阻范围:104ω~。

KDY1四探针电阻率/方阻测试仪使用说明广州昆德科技有限公司1。概述KDY1四探针电阻率/方块电阻测试仪(以下简称电阻率测试仪)是一种测量仪器，用于测量半导体材料(主要是硅单晶、锗单晶和硅片)的电阻率，以及扩散层、外延层、ITO导电膜和导电橡胶方块的电阻。它主要由一个电测部分(简称主机)、一个测试台和四个探头组成。该仪器的特点是主机配有双数字表。在测量电阻率的同时，另一个数字表(精度为万分之几)全程及时监测电流变化，消除了测量电流与测量电阻率之间的转换，及时控制测量电流。

物体表面电阻:大于10的12次方欧姆的电阻是绝缘体。大于10的第六次方欧姆和小于10的第十一次方欧姆为抗静电体。大于10的第三欧姆和小于10的第五欧姆是电导体。测试仪器:三合一功能的表面电阻测试仪是最理想的仪器。无锡王驹塑胶材料有限公司销售的三合一表面电阻测试仪，不仅可以测量产品的表面电阻，还可以测量产品的电导率，以及产品是否绝缘。

那得看你想测试什么材料了。测量薄膜有专门的测试仪和探头，测量块棒材料和薄膜材料的测试仪可以通用，只需换成四探针即可。粉体测试有专门的测试仪，包括手动测试仪和电动测试仪，意思是用欧姆表直接测量。欧姆表是自己产生一个微弱的电流，测量探针两端的电压，然后和自己的体电阻比较，最后给出电阻值，但这对于半导体来说并不准确。

测试仪 数字式